Αντικείμενο:

Ηλεκτρονική Φυσική & Μικροηλεκτρονική.

Μικροηλεκτρονικές και νανοηλεκτρονικές διατάξεις.

Δομικός και Ηλεκτρικός Χαρακτηρισμός υλικών

• Μελέτη αξιοπιστίας (reliability) διατάξεων MOS υποκείμενων σε ηλεκτρική καταπόνηση
• Μελέτη ημιαγωγικών διατάξεων μνημών με χρήση νανοκρυστάλλων.  
• Μελέτη ημιαγωγών και διατάξεων Si και ΙΙΙ-V.
• Κατασκευή και μελέτη φθοριζουσών οθονών καθοδοφωταύγειας και διατάξεων ηλεκτροφωταύγειας (electroluminescent devices)
• Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός υμενίων άνθρακα για χρήση στη μικροηλεκτρονική
• Ανάπτυξη, δομικός και ηλεκτρικός χαρακτηρισμός διατάξεων MOS που περιέχουν υλικά πύλης υψηλής διηλεκτρικής σταθεράς (high-k) και μνήμες DRAM νέας γενιάς.
• Μελέτη διατάξεων MOS βασισμένων στο Γερμάνιο (Ge) όπου σα πρώτο απομονωτικό στρώμα διηλεκτρικού χρησιμοποιείται ένα οξείδιο σπάνιας γαίας για χρήση σε ερχόμενες γενιές διατάξεων CMOS.